JSM-7610F 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
tel: 400-6699-117 轉(zhuǎn) 6205
參考價(jià)格: 250~300萬(wàn)元
查中標(biāo)價(jià) 》型號(hào):日本電子JSM-7610F
品牌:日本電子
產(chǎn)地:日本
類型:進(jìn)口
原制造商:日本電子
狀態(tài):在售
指導(dǎo)價(jià)格: 250~300萬(wàn)元
上市時(shí)間: 2013-08-15
英文名稱:SEM
優(yōu)點(diǎn):半浸沒(méi)式(semi-in-lens)高分辨率掃描電鏡,照明系統(tǒng)采用High Power Optics(高性能電子光學(xué)系統(tǒng)),可以進(jìn)行高分辨率、高精度的快速元素分析
用戶名單
更多日期 | 采購(gòu)單位 | 數(shù)量 | 價(jià)格 | 幣種 |
---|---|---|---|---|
2017-09-11 | 甘肅***點(diǎn)擊查看 | 1 | 點(diǎn)擊查看 | 人民幣 |
儀器導(dǎo)購(gòu)
掃描電鏡SEM
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廠家資料
地址:北京市西城區(qū)阜外大街2號(hào)萬(wàn)通新世界廣場(chǎng)B-1110
電話:400-6699-117 轉(zhuǎn) 6205
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- 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 掃描電子顯微鏡 用于掃描電子顯微鏡(TIFF/SEM)的標(biāo)記圖像文件格式
- JIS K 0132:1997 掃描電子顯微鏡總則
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測(cè)量用掃描電子顯微鏡的鑒定
- JJG(教委) 11-1992 掃描電子顯微鏡檢定規(guī)程
- JB/T 6842-1993 掃描電子顯微鏡試驗(yàn)方法
- JJF 1916-2021 掃描電子顯微鏡校準(zhǔn)規(guī)范
- KS I 0051-2019 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
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- KS D ISO 22493-2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
- GSO ISO 22493:2015 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯