激光粒度儀測(cè)粒度數(shù)據(jù)如何分析
測(cè)試報(bào)告說明：
1. 測(cè)試報(bào)告由6部分組成：表頭、樣品信息及測(cè)試信息、分析結(jié)果、圖形、數(shù)據(jù)表、表尾。
2. 量程：即測(cè)試范圍，在軟件的數(shù)據(jù)模板中選定。
3. 分散介質(zhì)：用于分散被測(cè)樣品的介質(zhì)。被測(cè)物質(zhì)與分散介質(zhì)不能發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，也不能在其中溶解。
4. 分散劑：能夠改變顆粒與液體之間的界面狀態(tài)，促進(jìn)顆粒充分分散的化學(xué)物質(zhì)。
5. 光學(xué)濃度：即遮光比。
6. 樣品濃度：即樣品在分散介質(zhì)中的體積百分比濃度，需要在系數(shù)校準(zhǔn)設(shè)置中輸入體積百分比計(jì)算系數(shù)后才能分析。
7. 自由分布：由無約束自由擬合算法所得的樣品本身固有的自然粒度分布。軟件中還設(shè)有R-R分布和對(duì)數(shù)正態(tài)分布。
8. X10：顆粒累計(jì)分布為10%的粒徑，即小于此粒徑的顆粒體積含量占全部顆粒的10%。
9. X50：顆粒粒徑分布為50%的粒徑，即小于此粒徑的顆粒體積含量占全部顆粒的50%。
10. X90：顆粒粒徑分布為90%的粒徑，即小于此粒徑的顆粒體積含量占全部顆粒的90%。
11. Xav：顆粒群的平均粒徑。
12. S/V：體積比表面積，即單位體積顆粒的表面積。
13. X[3，2]：表面積平均粒徑，是粒徑對(duì)表面積的加權(quán)平均，又稱索太爾平均徑。
14. X[4，3]：體積平均粒徑，是粒徑對(duì)體積（或重量）的加權(quán)平均，同上述Xav。
15. 擬合誤差：能譜數(shù)據(jù)向粒度分布數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換時(shí)產(chǎn)生的計(jì)算誤差。
16. 自定義項(xiàng)目分析結(jié)果：用戶根據(jù)需要自行添加的分析項(xiàng)目，添加該分析項(xiàng)目后，軟件自動(dòng)顯示出結(jié)果。
17. 粒度分布圖表說明：
橫向是粒徑值，該數(shù)值呈對(duì)數(shù)分布。
左列是體積累計(jì)百分比，對(duì)應(yīng)的是上升趨勢(shì)的曲線圖。
右列是某一區(qū)間的體積百分比，對(duì)應(yīng)的是起伏的直方圖（或曲線圖）。
18. 數(shù)據(jù)列表是分析圖表相對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果。
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