IEC 60122-1:2002
經(jīng)過(guò)質(zhì)量評(píng)定的石英晶體元件.第1部分:總規(guī)范
Quartz crystal units of assessed quality - Part 1: Generic specification
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- IEC 60122-1:2002
- 發(fā)布
- 2002年
- 總頁(yè)數(shù)
- 88頁(yè)
- 發(fā)布單位
- 國(guó)際電工委員會(huì)
- 替代標(biāo)準(zhǔn)
- IEC 60122-1:2002/AMD1:2017
- 當(dāng)前最新
- IEC 60122-1:2017
- 被代替標(biāo)準(zhǔn)
- IEC 49/551/FDIS:2002 IEC 60302:1969 IEC 61178-1:1993
- 適用范圍
- 規(guī)定了使用能力批準(zhǔn)或資格批準(zhǔn)程序評(píng)估質(zhì)量的石英晶體單元的測(cè)試方法和一般要求。