ASTM D2332-84(2003)
用波長色散X射線熒光法作水沉積物分析標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程
Standard Practice for Analysis of Water-Formed Deposits by Wavelength-Dispersive X-Ray Fluorescence
- 標(biāo)準(zhǔn)號
- ASTM D2332-84(2003)
- 發(fā)布
- 1984年
- 總頁數(shù)
- 3頁
- 發(fā)布單位
- 美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)
- 替代標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM D2332-08
- 當(dāng)前最新
- ASTM D2332-13(2021)
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM D1129 ASTM D887 ASTM E11
- 適用范圍
- 確定了水形成沉積物中存在的某些元素。估計(jì)元素的濃度水平。沉積物分析有助于提供適當(dāng)?shù)乃{(diào)節(jié)。由水在所有相中形成的沉積物可進(jìn)一步分類為水垢、污泥、腐蝕產(chǎn)物或生物沉積物。沉積物或沉積物的某些部分的總體成分可以通過化學(xué)或光譜分析來確定；實(shí)際以化學(xué)物質(zhì)形式存在的成分可以通過顯微鏡或X射線衍射研究來識(shí)別?？梢酝ㄟ^顯微鏡或生物方法來鑒定生物體。
1.1 本規(guī)程涵蓋水形成沉積物的 X 射線光譜化學(xué)分析。
1.2 本規(guī)程適用于測定樣品中大量存在的原子序數(shù)為 11 或更高的元素。 （通常高于 0.1%）。
1.3 本標(biāo)準(zhǔn)并不旨在解決與其使用相關(guān)的所有安全問題（如果有）。本標(biāo)準(zhǔn)的使用者有責(zé)任在使用前建立適當(dāng)?shù)陌踩徒】祵?shí)踐并確定監(jiān)管限制的適用性。