選擇特定納米顆粒
本專題涉及選擇特定納米顆粒的標(biāo)準(zhǔn)有9條。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，選擇特定納米顆粒涉及到物理學(xué)、化學(xué)、空氣質(zhì)量。
在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，選擇特定納米顆粒涉及到合成材料、合成材料綜合、信息處理技術(shù)綜合、化學(xué)。
英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于選擇特定納米顆粒的標(biāo)準(zhǔn)
- PD ISO/TS 14101:2012 用于納米材料特異性毒性篩選的金納米顆粒的表面表征：FT-IR 方法
- BS EN 17289-1:2020 散裝材料的特性 粒度加權(quán)細(xì)顆粒和結(jié)晶二氧化硅含量的測(cè)定 一般信息和測(cè)試方法的選擇
PH-BPS，關(guān)于選擇特定納米顆粒的標(biāo)準(zhǔn)
- PNS ISO/TS 14101:2021 用于納米材料特定毒性篩選的金納米粒子的表面表征：FT-IR方法
- PNS IEC/TS 62607-3-2:2021 納米制造.關(guān)鍵控制特性.第3-2部分：發(fā)光納米顆粒.量子點(diǎn)分散質(zhì)量的測(cè)定
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于選擇特定納米顆粒的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 36082-2018 納米技術(shù) 特定毒性篩查用金納米顆粒表面表征 傅里葉變換紅外光譜法
國(guó)際電工委員會(huì)，關(guān)于選擇特定納米顆粒的標(biāo)準(zhǔn)
- IEC TS 62607-3-2:2017 納米制造.關(guān)鍵控制特性.第3-2部分:發(fā)光納米顆粒.量子點(diǎn)分散質(zhì)量的測(cè)定
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于選擇特定納米顆粒的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO/TS 14101:2012 納米材料特定毒性篩選用金納米粒子的表面特性記述:傅立葉變換紅外光譜(FT-IR)方法
CEN - European Committee for Standardization，關(guān)于選擇特定納米顆粒的標(biāo)準(zhǔn)
- PREN 17199-1-2017 工作場(chǎng)所暴露 含有或釋放納米物體或亞微米顆粒的散裝材料粉塵的測(cè)量 第1部分：測(cè)試方法的要求和選擇
法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于選擇特定納米顆粒的標(biāo)準(zhǔn)
- NF X43-274-1*NF EN 17199-1:2019 工作場(chǎng)所暴露 測(cè)量含有或釋放納米物體或釋放可吸入 NOAA 和其他可吸入顆粒的散裝材料的粉塵 第1部分：測(cè)試方法的要求和選擇
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可能用到的儀器設(shè)備
