顆粒 暗場

本專題涉及顆粒 暗場的標準有2條。

國際標準分類中，顆粒 暗場涉及到光學(xué)和光學(xué)測量、光學(xué)設(shè)備。

在中國標準分類中，顆粒 暗場涉及到電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器。

國家質(zhì)檢總局，關(guān)于顆粒 暗場的標準

• GB/T 42208-2022 納米技術(shù) 多相體系中納米顆粒粒徑測量 透射電鏡圖像法

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關(guān)于顆粒 暗場的標準

• GB/T 34831-2017 納米技術(shù) 貴金屬納米顆粒電子顯微鏡成像 高角環(huán)形暗場法

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可能用到的儀器設(shè)備