“ICPMS”和“ICPOES”的區(qū)別
“ICPMS”和“ICPOES”的在用途和工作原理上有區(qū)別。
1.兩者用途不一樣 。ICP-MS：測量的是離子質(zhì)譜，ICP-OES是用來分析元素的發(fā)射光譜儀。
2. 兩者工作的原理不同。 ICP-OES：電感耦和等離子體光學發(fā)射光譜，原子光譜屬于價電子能級躍遷，范圍主要覆蓋真空紫外到亞近紅外，這個范圍內(nèi)的光信號可以用光學部件，如透鏡、反射鏡處理，故稱光學光譜。
與光學光譜相對的是X射線光譜 ICP-MS是一個以質(zhì)譜儀作為檢測器的等離子體，ICP-AES和ICP-MS的進樣部分及等離子體是極其相似的。提供在3～250amu范圍內(nèi)每一個原子質(zhì)量單位（amu）的信息。
ICPMS的基本原理和ICPMS起源：
ICP-MS儀器所使用的等離子體除了方位和線圈接地方式外，與發(fā)射光譜中使用的基本相同。所使用的質(zhì)量分析器、離子檢測器和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)又與四極桿GC-MS儀器相類似。質(zhì)量分析器多采用四極桿質(zhì)譜計，也有采用具有高分辨的雙聚焦扇形磁場質(zhì)譜計、飛行時間質(zhì)譜計等。
ICP-MS技術(shù)是80年代發(fā)展起來的新的分析測試技術(shù)。它以將ICP的高溫（8000K）電離特性與四極桿質(zhì)譜計的靈敏快速掃描的優(yōu)點相結(jié)合而形成一種新型的最強有力的元素分析、同位素分析和形態(tài)分析技術(shù)。
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