輻射的產(chǎn)生與防護(hù)要求(摘自設(shè)備設(shè)計(jì)說明書):(1)加速器在大功率下工作時(shí),即使加速管和電子槍喪失了工作能力,磁控管和閘流管仍能產(chǎn)生X線;高壓磁控管不僅從陰極而且從輸出波導(dǎo)處都能發(fā)射很強(qiáng)的X線;加速器照射頭附近的劑量和平坦度測定裝置以及固定在照射頭上的附件,可能被高能量光子束激活而產(chǎn)生放射性;使用15MV以上X線的醫(yī)用直線加速器將會帶來產(chǎn)生中子污染的問題。?...
測試標(biāo)準(zhǔn)通用標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)號標(biāo)準(zhǔn)名稱ISO 4892-1塑料-實(shí)驗(yàn)室光源暴露方法第1部分:概述ASTM G151用實(shí)驗(yàn)室光源的加速試驗(yàn)裝置中曝光非金屬材料的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程ASTM G155非金屬材料曝曬用氙弧燈設(shè)備操作規(guī)程IEC 68-2-9基本環(huán)境測試程序-第2部分:太陽輻照測試概述塑料相關(guān)氙燈老化標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)號標(biāo)準(zhǔn)名稱ISO 4892-2塑料-實(shí)驗(yàn)室光源暴露方法第2部分:氙燈光源GB/T 16422.2塑料實(shí)驗(yàn)室光源暴露試驗(yàn)方法第...
WDX用晶體分光而后由探測器接收經(jīng)過衍射的特征X射線信號。如分光晶體和探測器做同步運(yùn)動,不斷地改變衍射角,便可獲得樣品內(nèi)各種元素所產(chǎn)生的特征X射線的波長及各個(gè)波長X射線的強(qiáng)度,并以此進(jìn)行定性和定量分析。EDX用X射線管產(chǎn)生原級X射線照射到樣品上,所產(chǎn)生的特征X射線進(jìn)入Si(Li)探測器,便可進(jìn)行定性和定量分析。EDX體積小,價(jià)格相對較低,檢測速度比較快,但分辨率沒有WDX好?! ?..
在樣品的處理過程中,有時(shí)需要提供包括形貌、成分、晶體結(jié)構(gòu)或位向在內(nèi)的豐富資料,以便能夠更全面、客觀地進(jìn)行判斷分析。為此,相繼出現(xiàn)了掃描電子顯微鏡—電子探針多種分析功能的組合型儀器。掃描電子顯微鏡如配有X射線能譜和X射線波譜成分分析等電子探針附件,可分析樣品微區(qū)的化學(xué)成分等信息材料。內(nèi)部的夾雜物等,由于它們的體積細(xì)小,因此,無法采用常規(guī)的化學(xué)方法進(jìn)行定位鑒定,SEM卻可以提供重要的線索和數(shù)據(jù)。...
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