JB/T 6842-1993
掃描電子顯微鏡試驗(yàn)方法
Test method of scanning electron microscope
JBT6842-1993, JB6842-1993
JB/T 6842-1993 發(fā)布?xì)v史
JB/T 6842-1993由行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械 CN-JB 發(fā)布于 1993-07-09，并于 1994-01-01 實(shí)施。
JB/T 6842-1993 在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中歸屬于: N33 電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器，在國際標(biāo)準(zhǔn)分類中歸屬于: 37.020 光學(xué)設(shè)備。
JB/T 6842-1993 掃描電子顯微鏡試驗(yàn)方法的最新版本是哪一版？
最新版本是 JB/T 6842-1993 。
JB/T 6842-1993的歷代版本如下：
- 1993年 JB/T 6842-1993 掃描電子顯微鏡試驗(yàn)方法
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了掃描電子顯微鏡的試驗(yàn)方法。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于掃描電鏡主機(jī)性能的試驗(yàn)。
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- 標(biāo)準(zhǔn)號
- JB/T 6842-1993
- 別名
- JBT6842-1993
JB6842-1993 - 發(fā)布
- 1993年
- 總頁數(shù)
- 12頁
- 發(fā)布單位
- 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械
- 當(dāng)前最新
- JB/T 6842-1993
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