2.光學(xué)相干層析法 2.1方法原理 利用光學(xué)干涉原理，使珍珠珠層內(nèi)部的背向散射光與參考光發(fā)生干涉，通過探測干涉信號來檢測有核珍珠的珠層厚度。同時，通過掃描可以得到直觀的珠層圖像對珍珠進(jìn)行定性分析。 ...
參會專家一致認(rèn)為：該課題在全國率先開展采用X射線和近紅外光學(xué)相干層析成像技術(shù)對珍珠進(jìn)行無損檢測綜合對比研究，并取得突破性進(jìn)展，成功研制出兩種珍珠無損檢測高精度新儀器，把先進(jìn)的測量理論成功轉(zhuǎn)化為具有廣泛應(yīng)用意義的技術(shù)創(chuàng)新成果和測量儀器，屬于國內(nèi)首創(chuàng)，技術(shù)水平達(dá)到國內(nèi)領(lǐng)先，國際先進(jìn)水平。 目前該項目所研究的兩種無損檢測方法已被納入國家技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)在全國推廣應(yīng)用。...
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