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SJ 20719-1998
碲鎘汞晶體X值的X-射線熒光法測定方法

Method of determination X value for mercury cadmium telluride for use in X-ray fluorimetry


標(biāo)準(zhǔn)號
SJ 20719-1998
發(fā)布
1998年
發(fā)布單位
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子
當(dāng)前最新
SJ 20719-1998
 
 
適用范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用X-射線熒光法測定碲鎘汞晶片的組分X值。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于X值在0.100～0.350mo1范圍內(nèi)的碲鎘汞晶片組分X值定量測定。

專題

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