IEEE 2665-2022
IEEE 推薦的 EMC 測(cè)試實(shí)驗(yàn)室統(tǒng)計(jì)過程控制規(guī)程

IEEE Recommended Practice for Statistical Process Control for EMC Test Laboratories

適用范圍: 本推薦實(shí)踐提供了關(guān)于如何使用統(tǒng)計(jì)過程控制（SPC）和專門設(shè)置來驗(yàn)證電磁兼容性（EMC）測(cè)試性能的指導(dǎo)。需要符合ISO/IEC 17025要求的EMC測(cè)試實(shí)驗(yàn)室在開發(fā)監(jiān)測(cè)結(jié)果有效性所需的程序時(shí)，會(huì)發(fā)現(xiàn)這些信息特別相關(guān)。通過采用SPC，實(shí)驗(yàn)室可以通過記錄數(shù)據(jù)來監(jiān)測(cè)測(cè)試的有效性，以檢測(cè)趨勢(shì)，并評(píng)估測(cè)試系統(tǒng)的穩(wěn)定性。使用SPC的實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量檢查是一個(gè)強(qiáng)大的工具，可以為實(shí)驗(yàn)室及其客戶提供測(cè)試結(jié)果正確的信心。

術(shù)語	描述
必須 shall	表示強(qiáng)制要求，必須嚴(yán)格遵守，不允許有任何偏差。
應(yīng)該 should	表示在幾種可能性中推薦一種特別合適的選擇，但不排除其他選擇；或表示某種行動(dòng)是首選但非強(qiáng)制要求的。
可以 may	表示在標(biāo)準(zhǔn)允許的范圍內(nèi)可采取的行動(dòng)。
能 can	用于陳述可能性或能力，無論是物質(zhì)、物理還是因果關(guān)系。
統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control	用于監(jiān)測(cè)和控制過程性能的統(tǒng)計(jì)方法。