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高溫四探針測試儀可以實現(xiàn)高溫、真空及惰性氣氛條件下測量硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率和外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃(ITO)和其他導(dǎo)電薄膜的方塊電阻?! ∧敲锤邷厮奶结槣y試儀的測量原理是什么呢? 測量電阻率的方法很多,如三探針法、電容-電壓法、擴展電阻法等,四探針法則是...
高溫四探針測試儀可以實現(xiàn)高溫、真空及惰性氣氛條件下測量硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率和外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃(ITO)和其他導(dǎo)電薄膜的方塊電阻。那么高溫四探針測試儀的測量原理是什么呢?測量電阻率的方法很多,如三探針法、電容?-電壓法、擴展電阻法等,四探針法則是一種廣泛...
10581-2006 《絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗方法》GB/T 1692-2008 《硫化橡膠絕緣電阻率的測定》GB/T 12703.4-2010 《紡織品 靜電性能的評定 第4部分:電阻率》GB/T 10064-2006《測定固體絕緣材料絕緣電阻的試驗方法》。具體參數(shù):1、電阻測量范圍...
標(biāo)準(zhǔn):GB/T 1410-2006《 固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》ASTM D257-99《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗方法》GB/T 10581-2006 《絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗方法》GB/T 1692-2008 《硫化橡膠 絕緣電阻率的測定》GB/T...
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