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GB/Z 17626.33-2023
電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 第33部分:高功率瞬態(tài)參數(shù)測量方法

Electromagnetic Compatibility Testing and Measurement Techniques Part 33: Measurement Methods of High Power Transient Parameters


標(biāo)準(zhǔn)號
GB/Z 17626.33-2023
發(fā)布
2023年
總頁數(shù)
59頁
發(fā)布單位
國家質(zhì)檢總局
當(dāng)前最新
GB/Z 17626.33-2023
 
 
該標(biāo)準(zhǔn)為電磁兼容領(lǐng)域中的一項(xiàng)重要技術(shù)標(biāo)準(zhǔn),旨在規(guī)范高功率瞬態(tài)參數(shù)測量方法。該標(biāo)準(zhǔn)涵蓋了測量高功率瞬態(tài)參數(shù)所需的基本原理、測試設(shè)備和測量程序等內(nèi)容。通過該標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用,可以有效評估電器電子設(shè)備在受到高功率瞬態(tài)干擾時(shí)的抗干擾能力,為保障設(shè)備的正常工作提供可靠的技術(shù)支持。該標(biāo)準(zhǔn)的制定遵循了嚴(yán)格的科學(xué)原則和測試方法,確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。應(yīng)用該標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行高功率瞬態(tài)參數(shù)測量,能夠幫助用戶有效解決電磁兼容問題,提高產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性,滿足市場需求。
術(shù)語描述
雙端 TEM 小室
dual-end TEM cell
一種用于傳感器校準(zhǔn)的測試設(shè)備,提供均勻場照射。
單端 TEM 小室
singles-end TEM cell
一種用于電磁兼容測量的小尺寸測試設(shè)備。

GB/Z 17626.33-2023 中提到的儀器設(shè)備

雙端 TEM 小室 用于傳感器校準(zhǔn)提供均勻場照射的測試設(shè)備。

其他標(biāo)準(zhǔn)


專題


GB/Z 17626.33-2023相似標(biāo)準(zhǔn)





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