AENOR UNE-EN 13925-1:2006
無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第1部分：一般原則

Non-destructive testing - X-ray diffraction from polycrystalline and amorphous material - Part 1: General principles

標(biāo)準(zhǔn)號

AENOR UNE-EN 13925-1:2006

發(fā)布

2006年

發(fā)布單位

西班牙標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會

當(dāng)前最新

AENOR UNE-EN 13925-1:2006

 

 

介紹

該標(biāo)準(zhǔn)由西班牙標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會（ES-UNE）發(fā)布，發(fā)布日期為2006年2月8日。標(biāo)準(zhǔn)名稱為“無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第1部分：一般原則”，標(biāo)準(zhǔn)號為AENOR UNE-EN 13925-1:2006。該標(biāo)準(zhǔn)主要涉及多晶和非晶材料的X射線衍射檢測方法，提供了相關(guān)的檢測原則和指導(dǎo)。

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