VDI 2119-2013
測量排放 采樣大氣顆粒物>使用被動采樣器 Sigma-2 在受體表面上進(jìn)行 2 5 μm 光學(xué)顯微鏡表征以及數(shù)量沉降率和質(zhì)量濃度的計(jì)算

Measuring immissions — Sampling of atmospheric particles > 2.5 μm on an acceptor surface with the passive sampler Sigma-2 — Light microscopic characterization and calculation of the number sedimentation rate and the mass concentration

標(biāo)準(zhǔn)號

VDI 2119-2013

發(fā)布

2013年

發(fā)布單位

德國機(jī)械工程師協(xié)會

當(dāng)前最新

VDI 2119-2013

 

 

引用標(biāo)準(zhǔn)

DIN 32645:2008 DIN EN 12341:1999 DIN EN 13528-3:2004 DIN EN 14211:2005 DIN EN 14211:2010 DIN EN 14907:2005 DIN EN 61340-5-1:2008 DIN EN ISO 14644-1:1999 DIN EN ISO 14644-1:2010 DIN EN ISO 20988:2007 DIN IS

介紹

該標(biāo)準(zhǔn)主要針對大氣顆粒物的測量方法，介紹了使用被動采樣器Sigma-2進(jìn)行表征和計(jì)算的具體步驟。通過光學(xué)顯微鏡對大于等于2.5微米的顆粒物進(jìn)行分析，能夠準(zhǔn)確測定其沉降率和質(zhì)量濃度。這種方法為評估空氣污染程度提供了科學(xué)依據(jù)。

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