DIN EN IEC 61967-8:2024-01
草案 集成電路 電磁輻射測量 第8部分：輻射輻射測量 IC 帶狀線法 (IEC 47A/1136/CD:2022)

Draft Document - Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method (IEC 47A/1136/CD:2022); Text in German and English

標(biāo)準(zhǔn)號

DIN EN IEC 61967-8:2024-01

發(fā)布

2024年

發(fā)布單位

德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會

當(dāng)前最新

DIN EN IEC 61967-8:2024-01

 

 

介紹

該標(biāo)準(zhǔn)草案規(guī)定了集成電路電磁輻射測量的方法，具體為帶狀線法。適用于評估IC的輻射特性，并確保其符合相關(guān)要求。

***此介紹可能不準(zhǔn)確，請注意參考原文。

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