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CEI EN 61967-8:2012
集成電路 電磁發(fā)射測(cè)量 第8部分:輻射發(fā)射測(cè)量 IC 帶狀線法

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method


標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
CEI EN 61967-8:2012
發(fā)布
2012年
發(fā)布單位
SCC
當(dāng)前最新
CEI EN 61967-8:2012
 
 
適用范圍
ENGLISH

專題


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