BS ISO 11938:2012
微束分析 電子探針微量分析 使用波長(zhǎng)色散光譜進(jìn)行元素圖譜分析的方法
Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Methods for elemental-mapping analysis using wavelength-dispersive spectroscopy
2013-04
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- BS ISO 11938:2012
- 發(fā)布
- 2013年
- 總頁(yè)數(shù)
- 22頁(yè)
- 發(fā)布單位
- 英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
- 替代標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 11938:2013
- 當(dāng)前最新
- BS ISO 11938:2013
- 適用范圍
- 1 范圍 本國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)提供了使用波長(zhǎng)色散光譜法進(jìn)行電子微探針元素圖分析的程序。評(píng)估電子束在樣本上以數(shù)字方式移動(dòng)的測(cè)繪（電子束測(cè)繪）和僅使用載物臺(tái)移動(dòng)的測(cè)繪（大面積測(cè)繪）之間的選擇。它描述了五種數(shù)據(jù)處理類型：原始X射線強(qiáng)度數(shù)據(jù)法、k值法、校準(zhǔn)法、相關(guān)法和矩陣校正法。
專題
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