BS EN 15305:2008(2009)
無損檢測 X 射線衍射殘余應(yīng)力分析的試驗方法
Non - destructive Testing — Test Method for Residual Stress analysis by X - ray Diffraction
- 標(biāo)準(zhǔn)號
- BS EN 15305:2008(2009)
- 發(fā)布
- 2009年
- 總頁數(shù)
- 88頁
- 發(fā)布單位
- 英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會
- 當(dāng)前最新
- BS EN 15305:2008(2009)
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- BS EN 15305:2008 EN 13925-1:2003 EN 13925-2:2003 EN 13925-3:2005 ISO 5725-1 ISO 5725-2
- 適用范圍
- 本歐洲標(biāo)準(zhǔn)描述了通過X射線衍射分析在多晶試樣或組件的近表面區(qū)域非破壞性確定宏觀殘留應(yīng)力或施加應(yīng)力的方法。所有具有足夠結(jié)晶度的材料都可以進(jìn)行分析，但在以下情況下可能會受到限制（第12章中簡要說明）：應(yīng)力梯度、晶格常數(shù)梯度、表面粗糙度、非平面表面（見5.1.2）、高度織構(gòu)化材料、粗粒材料（見5.1.4）、多相材料、衍射線重疊、寬衍射線。針對上述情況確定殘留應(yīng)力的特定程序不在本文件中描述。所描述的方法基于EN 13925-1中定義的角度色散技術(shù)，采用反射幾何形狀。本文件中的建議適用于僅通過衍射線偏移確定應(yīng)變的應(yīng)力分析。此歐洲標(biāo)準(zhǔn)不涵蓋基于同步加速器X射線輻射的殘留應(yīng)力分析方法，并未全面考慮所有可能的應(yīng)用領(lǐng)域。
| 術(shù)語 | 描述 |
|---|---|
| 殘留應(yīng)力 Residual stress | 自由物體中沒有外部力或約束作用在其邊界上時的自平衡內(nèi)部應(yīng)力。 |
| 衍射角 Diffraction angle | 入射X射線和衍射X射線之間的夾角，通常用符號2θ表示。 |
BS EN 15305:2008(2009) 中提到的儀器設(shè)備
| X射線衍射儀 符合EN 13925-1標(biāo)準(zhǔn) | 用于非破壞性測定材料中殘留應(yīng)力的儀器，基于角度色散技術(shù)。 |
專題
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