KS C ISO 19749-2023
納米技術(shù)——用掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布

Nanotechnologies — Measurements of particle size and shape distributions by scanning electron microscopy

標準號

KS C ISO 19749-2023

發(fā)布

2023年

發(fā)布單位

韓國科技標準局

當前最新

KS C ISO 19749-2023

 

 

介紹

該標準涉及使用掃描電子顯微鏡（SEM）來測量納米尺度下的顆粒尺寸及其形狀分布。它提供了一套詳細的指導(dǎo)原則，包括樣品制備、儀器設(shè)置以及數(shù)據(jù)分析方法，以確保在不同實驗室之間獲得一致和可重復(fù)的測量結(jié)果。

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