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DB65/T 3486-2013
太陽能級多晶硅塊紅外探傷檢測方法

Infrared flaw detection method for solar-grade polysilicon block

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標準號: DB65/T 3486-2013
發(fā)布: 2013年
總頁數(shù): 10頁
發(fā)布單位: 新疆維吾爾自治區(qū)標準
當前最新: DB65/T 3486-2013

DB65/T 3486-2013 中可能用到的儀器設備

其它光學測量儀光源/氙燈光源/汞燈光源 ORP測量儀其它無損檢測儀器/設備實驗室管理系統(tǒng)/LIMS 活體成像水質(zhì)鹵素/非金屬分析儀 IV測試儀能源/交通/運輸聲學計量/測量儀器半導體專用檢測儀器設備

專題

無菌檢測方法紅外線紅外光學系統(tǒng) 紅外儀器紅外+ 儀器紅外儀器紫外探傷檢測儀器紅外紫外紅外探傷紅外探傷檢驗紅外測量紅外測量紅外光源

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