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OS GSO ISO 10810:2013
表面化學(xué)分析X射線光電子能譜分析指南

Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Guidelines for analysis

標(biāo)準(zhǔn)號: OS GSO ISO 10810:2013
發(fā)布: 2013年
發(fā)布單位: 阿曼規(guī)格和計量局
當(dāng)前最新: OS GSO ISO 10810:2013

介紹: 本規(guī)范提供了使用X射線光電子能譜法進(jìn)行表面化學(xué)分析的指導(dǎo)原則。它涵蓋了實驗條件的選擇、樣品制備方法以及數(shù)據(jù)處理和解釋的技術(shù)細(xì)節(jié)，適用于科研機(jī)構(gòu)、高等院校及企業(yè)實驗室中從事材料科學(xué)和表面分析的研究人員和技術(shù)人員。

***此介紹可能不準(zhǔn)確，請注意參考原文。

專題

能譜分析結(jié)果分析 x射線能量分析器 x射線光電子能譜擬合紫外光電子能譜分析紫外光電子能譜分析 x射線能譜分析如何分析 x射線能譜如何分析

OS GSO ISO 10810:2013相似標(biāo)準(zhǔn)

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