ASTM E3309-21
用掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法（SEM/EDS）報(bào)告法醫(yī)底漆槍彈殘留物（pGSR）分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
Standard Guide for Reporting of Forensic Primer Gunshot Residue (pGSR) Analysis by Scanning Electron Microscopy/Energy Dispersive X-Ray Spectrometry (SEM/EDS)
哪些標(biāo)準(zhǔn)引用了ASTM E3309-21
點(diǎn)擊查看大圖
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- ASTM E3309-21
- 發(fā)布
- 2021年
- 發(fā)布單位
- 美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)
- 當(dāng)前最新
- ASTM E3309-21
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E1588 ASTM E1732 ASTM E2917 ASTM E620
1.1 本指南描述了正式的書面技術(shù)報(bào)告的內(nèi)容，該報(bào)告表達(dá)了法醫(yī)服務(wù)提供商通過 SEM/EDS 進(jìn)行 pGSR 顆粒分析的結(jié)果和解釋。 1.2 本指南旨在供有能力的法證科學(xué)從業(yè)人員使用，他們接受過必要的正規(guī)教育、特定學(xué)科培訓(xùn)（參見實(shí)踐 E2917），并具有執(zhí)行法證案件工作的熟練程度。 1.3 本國際標(biāo)準(zhǔn)是根據(jù)世界貿(mào)易組織貿(mào)易技術(shù)壁壘（TBT）委員會(huì)發(fā)布的《關(guān)于...
專題
ASTM E3309-21相似標(biāo)準(zhǔn)
推薦
sem的eds和mapping什么區(qū)別
就定量來說，SEM點(diǎn)分析比線分析和面分析更準(zhǔn)確，掃描的方式不同，線分析和面分析只能定性的分析觀察視場的元素分布情況（線分析是沿著某個(gè)界面的元素分布起伏，而面分析是看整個(gè)視場的元素分布情況），點(diǎn)分析可以基本定量分析元素。SEM/EDS是掃描電子顯微鏡和X-射線能量色散譜儀的簡稱，兩者組合使用，功能非常強(qiáng)大，既能觀察微區(qū)的形貌又能對(duì)微區(qū)進(jìn)行成分分析，在各類分析工作中被廣泛運(yùn)用。...
表面成像與元素分析技術(shù)對(duì)古代金器的表征與鑒定方法
基于上述因素，我們通過表面顯微分析（掃描電子顯微鏡SEM）、元素分析（能量色散X射線能量譜儀EDS）與表面化學(xué)環(huán)境分析（X射線光電子能譜儀XPS）等方法來對(duì)目標(biāo)樣品（郢爰）進(jìn)行綜合評(píng)估。1.?EDS分析顯示，樣品金含量為96%-98%之間（分析方法為10次100平方微米mapping的平均值）。其他雜質(zhì)為水銀（Hg）、鉛（Pb）、硅（Si）、鐵（Fe）、硫（S）等。...
掃描電子顯微鏡-X射線能譜儀在司法鑒定中的應(yīng)用研究
通過具體案例,開展了掃描電子顯微鏡(SEM)配合X-射線能量色散譜儀(EDS)在司法案件物證分析鑒定方面的應(yīng)用研究,尤其是提出了當(dāng)以纖維所含無機(jī)元素成分的定性、定量分析作為鑒定依據(jù)時(shí)所應(yīng)注意的相關(guān)問題,為司法部門公正辦案提供了必要的科學(xué)依據(jù).?...
JEOL在Pittcon 2019展出下一代臺(tái)式掃描電子顯微鏡JCM-7000
顯微鏡無縫導(dǎo)航樣品，自動(dòng)聚焦于感興趣的區(qū)域，快速實(shí)現(xiàn)高分辨率的SEM成像和分析?！ ?shí)時(shí)分析 使用嵌入式能量色散X射線探測器（EDS），可以自動(dòng)檢測并實(shí)時(shí)顯示EDS光譜和構(gòu)成樣品的主要元素?！ ?shí)時(shí)3D成像 除了實(shí)時(shí)SEM圖像，NeoScope還可以顯示樣品表面的實(shí)時(shí)3D圖像，包括樣品表面形貌和深度信息?！ ∽詣?dòng)操作功能 基于樣品類型和應(yīng)用的自動(dòng)條件設(shè)置可確保高質(zhì)量的結(jié)果并提高生產(chǎn)率。...