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GB 5594.5-1985
電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法體積電阻率測(cè)試方法

Test methods for performance of structural ceramic materials for electronic components Test methods for volume resistivity

哪些標(biāo)準(zhǔn)引用了GB 5594.5-1985

SJ/T 11553-2015 93%氧化鋁真空電子用陶瓷 JC/T 2343-2015 導(dǎo)模法制備單晶三氧化二鋁管 SJ/T 3233-2008 真空電子器件電子槍支架玻桿

標(biāo)準(zhǔn)號(hào): GB 5594.5-1985
發(fā)布: 1985年
發(fā)布單位: 國(guó)家質(zhì)檢總局
當(dāng)前最新: GB 5594.5-1985

標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2828.1-2012 計(jì)數(shù)抽樣檢驗(yàn)程序第1部分：按接收質(zhì)量限(AQL)檢索的逐批檢驗(yàn)抽樣計(jì)劃 GB/T 5594.4-2015 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法第4部分:介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)試方法 SJ/T 11553-2015 93%氧化鋁真空電子用陶瓷 GJB 1650A-2021 電子和電氣用氧化鋁陶瓷規(guī)范 T/ICMTIA CM0033-2023 集成電路用氧化鋁陶瓷制品 GB/T 5594.5-1985 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法體積電阻率測(cè)試方法

專題

電子材料元器件

GB 5594.5-1985相似標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 5594.5-1985 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法體積電阻率測(cè)試方法 GB/T 5593-1996 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料 GB/T 18791-2002 電子和電氣陶瓷性能試驗(yàn)方法 GB/T 14620-1993 薄膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片 GB/T 14619-1993 厚膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片

GB 5594.5-1985系列標(biāo)準(zhǔn)

GB 5594.1-1985 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法氣密性測(cè)試方法 GB 5594.2-1985 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法楊氏彈性模量泊松比測(cè)試方法 GB 5594.5-1985 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法體積電阻率測(cè)試方法

誰(shuí)引用了GB 5594.5-1985 更多引用

SJ/T 11553-2015 93%氧化鋁真空電子用陶瓷

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