EN IEC 63287-1:2021
半導體器件 通用半導體鑒定指南 第1部分：IC 可靠性鑒定指南

Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification

標準號

EN IEC 63287-1:2021

發(fā)布

2021年

發(fā)布單位

歐洲電工標準化委員會

當前最新

EN IEC 63287-1:2021

 

 

適用范圍

IEC 63287-1:2021 給出了半導體集成電路產(chǎn)品可靠性鑒定計劃的指南。本文檔不適用于軍事和太空相關應用。注 1：制造商可以通過基于 EDR-4708、AEC Q100、JESD47 或其他相關文件（如果有指定）的指南改編，使用靈活的樣本量來降低成本并保持合理的可靠性。注2：本文件中使用的威布爾分布方法是計算給定可靠性項目的適當樣本量和測試條件的幾種方法之一。 IEC 63287-1 第一版取消并取代了 2017 年發(fā)布的 IEC 60749-43 第一版。該版本構成技術修訂版。與前一版本相比，此版本包括以下重大技術更改：該文件已重命名并重新編號，以區(qū)別于 IEC 60749（所有部分）；增加了一個關于"家庭"概念的新章節(jié)，并對現(xiàn)有案文進行了適當?shù)闹匦戮幪枴?/dd>

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