SS-EN 61967-8:2012
集成電路 電磁輻射測量 第8部分:輻射發(fā)射測量.IC帶狀線法

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method

標(biāo)準(zhǔn)號

SS-EN 61967-8:2012

發(fā)布單位

瑞典標(biāo)準(zhǔn)研究所

當(dāng)前最新

SS-EN 61967-8:2012

 

 

介紹

該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用于測量集成電路輻射發(fā)射的IC帶狀線法。具體內(nèi)容包括測量設(shè)備的要求、試驗條件和測試方法，適用于評估集成電路在電磁環(huán)境中的性能。

***此介紹可能不準(zhǔn)確，請注意參考原文。

SS-EN 61967-8:2012相似標(biāo)準(zhǔn)