DIN EN ISO 3497:2001-12
金屬涂層 - 涂層厚度的測(cè)量 - X 射線光譜測(cè)定方法 (ISO 3497:2000)

Metallic coatings - Measurement of coating thickness - X-ray spectrometric methods (ISO 3497:2000); German version EN ISO 3497:2000

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

DIN EN ISO 3497:2001-12

發(fā)布

2001年

發(fā)布單位

德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)

當(dāng)前最新

DIN EN ISO 3497:2001-12

 

 

介紹

該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用X射線光譜法測(cè)量金屬涂層厚度的方法，適用于各種類(lèi)型的金屬基材和涂層材料。通過(guò)詳細(xì)描述儀器設(shè)備、操作步驟及數(shù)據(jù)處理方法，確保不同實(shí)驗(yàn)室間的數(shù)據(jù)一致性與可比性。

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專(zhuān)題

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