GB/T 5170.1-1995
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則
Inspection methods for basic parameters of environmental testing equipments for electric and electronic products. General
GBT5170.1-1995, GB5170.1-1995
2009-03
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- GB/T 5170.1-1995
- 別名
- GBT5170.1-1995, GB5170.1-1995
- 發(fā)布
- 1995年
- 總頁(yè)數(shù)
- 8頁(yè)
- 發(fā)布單位
- 國(guó)家質(zhì)檢總局
- 替代標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 5170.1-2008
- 當(dāng)前最新
- GB/T 5170.1-2016
- 適用范圍
- 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備（以下簡(jiǎn)稱“設(shè)備”）基本參數(shù)檢定方法所用術(shù)語(yǔ)、檢定條件、檢定儀器、檢定周期、檢定負(fù)載及檢定結(jié)果處理等基本要求。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于電工電子產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)所用設(shè)備基本參數(shù)的檢定，其他產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)所用設(shè)備基本參數(shù)的檢定亦可參照使用。
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