GB/T 16526-1996
封裝引線間電容和引線負(fù)載電容測試方法
The method measuring the lead-to-lead and loading capacitance of package leads
GBT16526-1996, GB16526-1996
- 標(biāo)準(zhǔn)號
- GB/T 16526-1996
- 別名
- GBT16526-1996, GB16526-1996
- 發(fā)布
- 1996年
- 總頁數(shù)
- 3頁
- 采用標(biāo)準(zhǔn)
- SEMI G24-1989 EQV
- 發(fā)布單位
- 國家質(zhì)檢總局
- 當(dāng)前最新
- GB/T 16526-1996
- 本體
- 半導(dǎo)體集成電路
- 適用范圍
- 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路封裝引線間電容 和引線負(fù)載電容的測試方法。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體集成電路陶瓷、金屬、塑料封裝引線間電容和引線負(fù)載電容測量。
| 半導(dǎo)體集成電路 semiconductor integrated circuit | 一種將多個(gè)電子元件集成在單一芯片上的電子器件，廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中。 |
| 引線間電容 lead capacitance | 半導(dǎo)體集成電路封裝中相鄰引線之間的電容，影響電路性能的關(guān)鍵參數(shù)。 |
| 引線負(fù)載電容 load capacitance | 半導(dǎo)體集成電路封裝中單根引線與周圍結(jié)構(gòu)的電容，測試方法用于評估電路特性。 |
GB/T 16526-1996 中提到的儀器設(shè)備
| 探針臺(tái) 微動(dòng)探針臺(tái)（推薦型號：44-FPC-6000） | 用于固定和定位探針對半導(dǎo)體封裝的測試，支持同軸探針和普通探針。 |
| 電容儀 | 用于測量電容值的精密儀器，具有加屏蔽的兩探針法或四探針法功能。 |