庫侖測厚儀 B1.2規(guī)定的化學(xué)退除法和顯微鏡法 | 用于測量鍍層厚度,特別是局部厚度小于9μm的情況。 |
顯微鏡 B1.1規(guī)定的顯微鏡法 | 用于測量顯微斷面的厚度,適用于印刷線路板通孔中的鍍層厚度測量。 |
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