ISO 16232 的這一部分定義了確定污染物顆粒尺寸和數(shù)量的方法,這些污染物顆粒是從組件中提取并沉積在膜過(guò)濾器表面上的,通過(guò)使用光學(xué)顯微鏡 (LM) 或掃描電子顯微鏡進(jìn)行測(cè)定(掃描電鏡)。 該測(cè)量的結(jié)果是膜過(guò)濾器上的顆粒尺寸分布。 由于單個(gè)或幾個(gè)關(guān)鍵顆粒的存在可能會(huì)損害零部件的功能,因此對(duì)整個(gè)膜過(guò)濾器表面的完整分析至關(guān)重要。 如果有合適的設(shè)備,這些分析可以...
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