GB/T 7153-2002
直熱式階躍型正溫度系數(shù)熱敏電阻器第1部分;總規(guī)范

Directly heated positive step-function temperature coefficient thermistors Part 1: Generic specification

標(biāo)準(zhǔn)號(hào): GB/T 7153-2002
別名: GBT7153-2002, GB7153-2002
發(fā)布: 2002年
總頁(yè)數(shù): 38頁(yè)
采用標(biāo)準(zhǔn): IEC 60738-1:1998 IDT
發(fā)布單位: 國(guó)家質(zhì)檢總局
當(dāng)前最新: GB/T 7153-2002

引用標(biāo)準(zhǔn): GB 3100-1993 GB/T 2421-1999 GB/T 2423.1-2001 GB/T 2423.17-1993 GB/T 2423.21-1991 GB/T 2423.28-1982 GB/T 2423.4-1993 GB/T 2423.5-1995 GB/T 2423.6-1995 GB/T 2691-1994 GB/T 4728.4-1999 GB/T 5076-1985 IEC 60027-1:1992 IEC 60050 IEC 60062:1992 IEC 60068-2-11:1981 IEC 60068-2-13:1983 IEC 60068-2-14:1984 IEC 60068-2-1:1990 IEC 60068-2-20:1979 IEC 60068-2-21:1983 IEC 60068-2-27:1987 IEC 60068-2-29:1987 IEC 60068-2-2:1974 IEC 60068-2-30:1980 IEC 60068-2-3:1969 IEC 60068-2-45:1980 IEC 60068-2-6:1995 IEC 60249-2-4:1987 IEC 60410:1973 IEC 60617-4:1996
被代替標(biāo)準(zhǔn): GB/T 7153-1987

適用范圍: 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了絕緣和非絕緣的階躍型正溫度系數(shù)熱敏電阻器的術(shù)語(yǔ)和試驗(yàn)方法，這類(lèi)電阻器一般由鐵電半導(dǎo)體材料制成。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用于電子元件鑒定批準(zhǔn)和質(zhì)量評(píng)定體系詳細(xì)規(guī)范的標(biāo)準(zhǔn)術(shù)語(yǔ)、檢驗(yàn)程序和試驗(yàn)方法。

術(shù)語(yǔ)	描述
零功率電阻值 Zero-power resistance	在給定溫度下，在其內(nèi)部發(fā)熱所引起的電阻變化對(duì)于測(cè)量總誤差可忽略不計(jì)的條件下所測(cè)的電阻值。
標(biāo)稱(chēng)零功率電阻值 Nominal zero-power resistance	在某一規(guī)定溫度下與某一功耗下測(cè)量的熱敏電阻器的直流電阻值。
電壓依賴(lài)性 Voltage dependence	在恒定的電阻體溫度下，所測(cè)熱敏電阻器的阻值隨跨接在其兩端的電壓增加而減少的一種二次效應(yīng)。

環(huán)境試驗(yàn)箱根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)要求配置	用于進(jìn)行高低溫、濕熱等環(huán)境試驗(yàn)的設(shè)備。
鹽霧試驗(yàn)箱符合GB/T 2423.17-1993	用于評(píng)估材料耐腐蝕性能的設(shè)備。
AB-200B鹽霧試驗(yàn)機(jī) 眾路 AB-200B SSC系列鹽霧耐腐蝕試驗(yàn)箱昊極科技 SSC系列 CRH1100復(fù)合式鹽霧試驗(yàn)箱 Q-LAB CRH1100 鹽水噴霧試驗(yàn)箱上海翰強(qiáng)儀器設(shè)備廠 HQYW-90

環(huán)境試驗(yàn)箱根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)要求配置	用于進(jìn)行高低溫、濕熱等環(huán)境試驗(yàn)的設(shè)備。
鹽霧試驗(yàn)箱符合GB/T 2423.17-1993	用于評(píng)估材料耐腐蝕性能的設(shè)備。
AB-200B鹽霧試驗(yàn)機(jī) 眾路 AB-200B SSC系列鹽霧耐腐蝕試驗(yàn)箱昊極科技 SSC系列 CRH1100復(fù)合式鹽霧試驗(yàn)箱 Q-LAB CRH1100 鹽水噴霧試驗(yàn)箱上海翰強(qiáng)儀器設(shè)備廠 HQYW-90