GB/T 21636-2008
微束分析.電子探針顯微分析(EPMA)術(shù)語
Microbeam analysis.Electron probe microanalysis (EPMA).Vocabulary
GBT21636-2008, GB21636-2008
2022-07
- 標準號
- GB/T 21636-2008
- 別名
- GBT21636-2008, GB21636-2008
- 發(fā)布
- 2008年
- 總頁數(shù)
- 39頁
- 采用標準
- ISO 23833:2006 IDT
- 發(fā)布單位
- 國家質(zhì)檢總局
- 替代標準
- GB/T 21636-2021
- 當前最新
- GB/T 21636-2021
- 適用范圍
- 本標準定義了電子探針顯微分析（EPMA）實踐中使用的術(shù)語，包括一般概念的術(shù)語和按技術(shù)等級分類的具體概念的術(shù)語。 本標準適用于所有有關(guān)電子探針顯微分析（EPMA）踐的標準化文件，部分適用于相關(guān)領(lǐng)域[例如：掃描電子顯微鏡（SEM），分析電子顯微鏡（AEM），X射線能譜儀等]的標準化文件，用于定義共用的術(shù)語。
GB/T 21636-2008 中可能用到的儀器設(shè)備
電子探針X射線微區(qū)分析儀(EPMA)
X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜儀XAFS
電鏡用X射線能譜儀EDS
X射線衍射儀(XRD)
電化學(xué)工作站
X射線能譜儀(EDS)
激光共聚焦顯微鏡
熒光顯微鏡
電子背散射衍射系統(tǒng)EBSD系統(tǒng)
分子熒光光譜/熒光分光光度計
二次離子質(zhì)譜/離子探針
X射線散射儀
X射線(衍射)儀/能譜儀部件及外設(shè)
其它光學(xué)測量儀
X熒光光譜/XRF（能量色散型X熒光光譜儀）
X熒光光譜/XRF（波長色散型）
熱解吸儀，熱脫附儀
掃描探針/原子力顯微鏡SPM/AFM
金屬多元素分析儀
順磁共振波譜儀
核磁共振波譜儀
顯微圖像分析系統(tǒng)
電鏡附件及外設(shè)
顯微操作
透射電鏡TEM
材料/金相顯微鏡
光學(xué)平臺
激光光散射儀
X射線探傷機、X射線探傷儀
粒子分散性分析儀
熔點儀
其他試驗機
等離子體表面處理儀
切割機
冠層分析儀
分子互作分析儀
蛋白質(zhì)穩(wěn)定性分析儀
氣溶膠分析儀
其他包裝業(yè)專用
其它行業(yè)專用
粒子圖像測速儀(PIV)
電子束刻蝕
原子層沉積(ALD)
專題
GB/T 21636-2008相似標準
推薦
一文了解EPMA制樣要求
21636-2008 微束分析.電子探針顯微分析(EPMA)術(shù)語 國際標準化組織，關(guān)于epma 制樣的標準 ISO 19463-2018 微光束分析.電子探針顯微分析儀（EPMA）.執(zhí)行質(zhì)量保證程序的指南 ISO 23833-2013 微光束分析.電子探針微量分析(EPMA).詞匯 ISO...
掃描電子顯微鏡（SEM）和電子探針顯微分析裝置（EPMA）
掃描電子顯微鏡和電子探針顯微分析儀基本原理相同，但很多人分不清其差異，實際上需要使用電子探針領(lǐng)域比較少，而掃描電鏡相對普遍。掃描電子顯微鏡（SEM），主要用于固體物質(zhì)表面電子顯微高分辨成像，接配電子顯微分析附件，可做相應(yīng)的特征信號分析。 最常用的分析信號是聚焦電子束和樣品相互作用區(qū)發(fā)射出的元素特征...
相約開封丨第十屆全國微束分析技術(shù)標準宣貫會暨第五屆全國電子顯微鏡維護管理與教學(xué)論壇
隨著科學(xué)技術(shù)不斷進步，微束分析技術(shù)在材料、生命等領(lǐng)域的應(yīng)用越來越廣泛。然而，不同實驗機構(gòu)之間的微束分析結(jié)果存在差異，給研究帶來諸多困擾。因此，通過推廣微束分析技術(shù)標準化的制定、修訂工作，不僅能提高科學(xué)實驗工作效率，還能促進技術(shù)發(fā)展和創(chuàng)新。電子顯微鏡作為最具代表性的微束分析儀器之一，可直接觀察納米級...