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IEC 60749-7/COR1:2003
半導(dǎo)體器件.機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法.第7部分:其他殘余氣體的分析和內(nèi)部含水量的測(cè)量

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

被代替

2011-06

標(biāo)準(zhǔn)號(hào): IEC 60749-7/COR1:2003
發(fā)布: 2003年
發(fā)布單位: 國(guó)際電工委員會(huì)
替代標(biāo)準(zhǔn): IEC 60749-7:2011
當(dāng)前最新: IEC 60749-7:2011

適用范圍: 這是 IEC 60749-7-2002 的技術(shù)勘誤表 1（半導(dǎo)體器件 - 機(jī)械和氣候測(cè)試方法 - 第 7 部分：內(nèi)部水分含量測(cè)量和其他殘留氣體的分析）

IEC 60749-7/COR1:2003相似標(biāo)準(zhǔn)

EN 60749-7:2002 半導(dǎo)體器件.機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法.第7部分:其他殘余氣體的分析和內(nèi)部含水量測(cè)量 EN 60749-7:2011 半導(dǎo)體器件.機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法.第7部分:其他殘余氣體的分析和內(nèi)部含水量測(cè)量 IEC 60749-7:2011 半導(dǎo)體器件.機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法.第7部分:其他殘余氣體的分析和內(nèi)部水分含量的測(cè)量 IEC 60749-7:2002 半導(dǎo)體器件.機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法.第7部分:其他殘余氣體的分析和內(nèi)部水分含量的測(cè)量 BS EN 60749-7:2002 半導(dǎo)體器件.機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法.其他殘余氣體的內(nèi)部濕氣含量的測(cè)量和分析

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