ASTM D5477-95
傅里葉變換紅外線顯微光譜法識別聚合物層或夾雜物的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)范

Standard Practice for Identification of Polymer Layers or Inclusions by Fourier Transform Infrared Microspectroscopy (FT-IR)

被代替

標(biāo)準(zhǔn)號

ASTM D5477-95

發(fā)布

1995年

發(fā)布單位

美國材料與試驗(yàn)協(xié)會

替代標(biāo)準(zhǔn)

ASTM D5477-02

當(dāng)前最新

ASTM D5477-18

 

 

適用范圍

1.1 本實(shí)踐描述了用于檢測兩種不同聚合物實(shí)體的技術(shù)，如下：
1.1.1 表面或薄膜中作為缺陷而令人反感的異常斑點(diǎn)或斑點(diǎn)，以及 1.1.2 通常用作阻隔薄膜的不同聚合物片材層共擠出。
1.2 以 SI 單位表示的值應(yīng)被視為標(biāo)準(zhǔn)。括號中給出的值僅供參考。
1.3 本標(biāo)準(zhǔn)并不旨在解決與其使用相關(guān)的所有安全問題（如果有）。本標(biāo)準(zhǔn)的使用者有責(zé)任在使用前建立適當(dāng)?shù)陌踩徒】祵?shí)踐并確定監(jiān)管限制的適用性。具體危險(xiǎn)說明在第 7 節(jié)中給出。注釋 18212；沒有類似或等效的 ISO 標(biāo)準(zhǔn)。

專題

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