ASTM E1311-89(2004)
熱像儀用最低可檢測(cè)溫差的測(cè)試方法

Standard Test Method for Minimum Detectable Temperature Difference for Thermal Imaging Systems

被代替

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

ASTM E1311-89(2004)

發(fā)布

1989年

發(fā)布單位

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)

替代標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E1311-89(2010)

當(dāng)前最新

ASTM E1311-14(2022)

 

 

該測(cè)試方法可衡量熱成像系統(tǒng)在大背景中檢測(cè)小點(diǎn)的有效性。因此，它涉及微小材料缺陷的檢測(cè)，例如空隙、凹坑、裂紋、夾雜物和閉塞。 MDTD 值提供了檢測(cè)能力的估計(jì)，可用于將一個(gè)系統(tǒng)與另一個(gè)系統(tǒng)進(jìn)行比較。 （MDTD 值越低表示檢測(cè)能力越好。）注釋 28212；在理想化實(shí)驗(yàn)室條件下獲得的測(cè)試值可能與使用性能直接相關(guān)，也可能不相關(guān)。1.1 該測(cè)試方法涵蓋了化合物的最小...

專題

ASTM E1311-89(2004)相似標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E1311-89(2004) 中可能用到的儀器設(shè)備