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GB/T 2423.1-2008
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)A: 低溫

Environmental testing for electric and electronic products.Part 2:Test methods.Tests A:Cold

GBT2423.1-2008, GB2423.1-2008


標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
GB/T 2423.1-2008
別名
GBT2423.1-2008, GB2423.1-2008
發(fā)布
2008年
總頁(yè)數(shù)
15頁(yè)
采用標(biāo)準(zhǔn)
IEC 60068-2-1:2007 IDT
發(fā)布單位
國(guó)家質(zhì)檢總局
當(dāng)前最新
GB/T 2423.1-2008
 
 
引用標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2421 GB/T 2422 GB/T 2423.22 GB/T 2424.1 GB/T 2424.5 GB/T 2424.7 IEC 60721
被代替標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2423.1-2001
 
 
本體
電工電子產(chǎn)品
適用范圍
GB/T 2423 的本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn) Ab 和試驗(yàn) Ad 與早期版本無(wú)實(shí)質(zhì)性的差異。增加試驗(yàn) Ae 的目的主要是檢測(cè)那些要求在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運(yùn)行的設(shè)備。 本低溫試驗(yàn)的目的僅限于用來(lái)確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。 本低溫試驗(yàn)不能用來(lái)評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力 , 在這種情況下 ,應(yīng)采用 GB/T 2423.22 。 本低溫試驗(yàn)方法細(xì)分為以下幾種 : ——非散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn) : ·試驗(yàn) Ab, 溫度漸變。 ——散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn) : ·試驗(yàn) Ad, 溫度漸變 ; ·試驗(yàn) Ae, 溫度漸變 , 試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程通電。 本部分給出的試驗(yàn)方法通常用于試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。
術(shù)語(yǔ)描述
嚴(yán)酷等級(jí)溫度
severity level temperature		根據(jù)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求和使用環(huán)境確定的產(chǎn)品承受能力的最大值
工作循環(huán)和負(fù)載條件
working cycle and load conditions		測(cè)試期間設(shè)備的工作狀態(tài)，包括運(yùn)行模式和負(fù)載要求

GB/T 2423.1-2008 中提到的儀器設(shè)備

低溫試驗(yàn)箱
符合IEC 60068-2-1標(biāo)準(zhǔn)要求的型號(hào)		用于模擬低溫度環(huán)境進(jìn)行產(chǎn)品測(cè)試的設(shè)備，需滿足一定的氣流速度和溫控精度

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誰(shuí)引用了GB/T 2423.1-2008 更多引用



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