SANS 144:1982
金屬和氧化物涂層．涂層厚度測量．顯微鏡法

Metallic and oxide coatings - Measurement of coating thickness - Microscopical method

作廢

標(biāo)準號

SANS 144:1982

發(fā)布

1982年

發(fā)布單位

南非標(biāo)準局

替代標(biāo)準

SANS 144:2008

當(dāng)前最新

SANS 144:2008

 

 

適用范圍

本國際標(biāo)準規(guī)定了通過使用光學(xué)顯微鏡對橫截面進行顯微檢查來測量金屬涂層、氧化層和瓷質(zhì)或搪瓷涂層的局部厚度的方法。在良好的條件下，當(dāng)使用光學(xué)顯微鏡時，該方法能夠給出0.8 urn的絕對測量精度；這將決定測量薄涂層厚度的方法的適用性。

專題

SANS 144:1982相似標(biāo)準

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