IEC 62153-4-12:2009
金屬通信電纜的shiyan 方法.第4-12部分:電磁兼容性(EMC).連接硬件的耦合衰減或屏蔽衰減.吸收鉗法
Metallic communication cable test methods - Part 4-12: Electromagnetic compatibility (EMC) - Coupling attenuation or screening attenuation of connecting hardware - Absorbing clamp method
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- IEC 62153-4-12:2009
- 發(fā)布
- 2009年
- 中文版
- GB/T 31723.412-2021 (等同采用的中文版本)
- 發(fā)布單位
- 國(guó)際電工委員會(huì)
- 當(dāng)前最新
- IEC 62153-4-12:2009
- 被代替標(biāo)準(zhǔn)
- IEC 46/312/CDV:2008
IEC 62153-4-12:2009相似標(biāo)準(zhǔn)
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推薦
適用頻譜分析儀的掃描探頭
例如：工程師可能需要借助的探頭，才能發(fā)現(xiàn)耦合到電纜或電線，并輻射到被測(cè)器件其他部分的發(fā)射。如果干擾信號(hào)通過電纜發(fā)射，那么使用常規(guī)的磁場(chǎng)和電場(chǎng)探頭是很難探測(cè)到這些干擾信號(hào)的。四、結(jié)論：近場(chǎng)電磁干擾 (EMI) 測(cè)試是電磁兼容性 (EMC) 輻射發(fā)射預(yù)兼容測(cè)試中的一個(gè)重要工具。用戶可考慮各種近場(chǎng)探頭在定位和測(cè)試可能的發(fā)射源以及診斷其故障等方面的不同優(yōu)勢(shì)，選擇適合的近場(chǎng)探頭執(zhí)行這一測(cè)試。...
保證可靠性 單片機(jī)系統(tǒng)的電磁兼容性設(shè)計(jì)詳解
干擾的產(chǎn)生不是直接的（通過導(dǎo)體、公共阻抗耦合等），就是間接的（通過串?dāng)_或輻射耦合）。電磁干擾的產(chǎn)生是通過導(dǎo)體和通過輻射，很多電磁發(fā)射源，如光照、繼電器、DC電機(jī)和日光燈都可引起干擾；AC電源線、互連電纜、金屬電纜和子系統(tǒng)的內(nèi)部電路也都可能產(chǎn)生輻射或接收到不希望的信號(hào)。在高速單片機(jī)系統(tǒng)中，時(shí)鐘電路通常是寬帶噪聲的最大產(chǎn)生源，這些電路可產(chǎn)生高達(dá)300 MHz的諧波失真，在系統(tǒng)中應(yīng)該把它們?nèi)サ簟?..