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BS EN 60749-7:2011
半導體裝置.機械和氣候耐受性試驗方法.其他殘余氣體的內(nèi)部濕度測量和分析

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases


標準號
BS EN 60749-7:2011
發(fā)布
2011年
總頁數(shù)
26頁
發(fā)布單位
英國標準學會
當前最新
BS EN 60749-7:2011
 
 
被代替標準
BS EN 60749-7:2002

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