導(dǎo)讀顯微分析技術(shù)重要的設(shè)備包括:光學(xué)顯微鏡(OM)、雙束掃描電子顯微鏡(DB-FIB)、掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)。今天的文章將介紹DB-FIB的原理及應(yīng)用,重點介紹廣電計量DB-FIB的服務(wù)能力及DB-FIB應(yīng)用于半導(dǎo)體分析相關(guān)的案例。什么是DB-FIB雙束掃描電子顯微鏡...
多層納米線以其特有的結(jié)構(gòu)在基礎(chǔ)物理研究和納米器件應(yīng)用領(lǐng)域具有重要的價值。透射電子顯微鏡(TEM)具有全面表征和分析納米單體的功能,對多層納米線陣列和單根多層納米線微納尺度下結(jié)構(gòu)和成份的研究將為探討納米線陣列的磁性和形貌之間的關(guān)系,以及單根多層納米線的電學(xué)和磁學(xué)性質(zhì)奠定基礎(chǔ),這有助于推動納米器件和...
掃描電子顯微鏡的探針——高能電子的性質(zhì)使其特別適合于檢查半導(dǎo)體材料的光學(xué)和電子特性。掃描電鏡電子束中的高能電子將把載流子注入半導(dǎo)體。因此,電子束中的電子通過使電子受激從價帶進入導(dǎo)帶而失去能量,留下空穴。 在直接帶隙材料中,這些電子-空穴對的復(fù)合將產(chǎn)生陰極射線發(fā)光;如果樣品含有內(nèi)部電場,如pn結(jié)...
近期,牛津儀器納米分析部演示實驗室參加了由寶山鋼鐵股份有限公司分析測試研究中心舉辦的BSTCT1704 金屬的微束分析能力認證。參加項目為鈦鋁合金中鈦和鋁含量的測定,取得了令人滿意的結(jié)果并獲得證書。BSTCT1704認證工作每兩年舉辦一次,這是已是牛津儀器連續(xù)第四次獲得該證書。牛津儀器能譜系統(tǒng)采用...
Copyright ?2007-2025 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP備07018254號 京公網(wǎng)安備1101085018 電信與信息服務(wù)業(yè)務(wù)經(jīng)營許可證:京ICP證110310號
頁面更新時間: 2025-05-28 16:01