術(shù)語 | 描述 |
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二次離子質(zhì)譬儀(SIMS) Secondary Ion Mass Spectrometer (SIMS) | 一種用于表面分析的精密儀器,通過檢測二次離子來確定樣品的組成。 |
扇形磁場二次離子質(zhì)譜儀 能檢測負(fù)二次離子的電子倍增器和法拉第杯檢測器,質(zhì)量分辨率優(yōu)于4000。 | 用于高真空條件下的樣品分析,具有高靈敏度。 |
液氮或者液氨冷卻裝置 | 保持分析室的低溫環(huán)境,減少背景干擾。 |
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