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KS D ISO 20341:2005
表面化學(xué)分析.次級(jí)離子質(zhì)譜法.多δ層標(biāo)準(zhǔn)材料深度溶解參數(shù)的估算方法

Surface chemical analysis－Secondary-ion mass spectrometry－Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials

被代替

2020-01

標(biāo)準(zhǔn)號(hào): KS D ISO 20341:2005
發(fā)布: 2005年
發(fā)布單位: 韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局
替代標(biāo)準(zhǔn): KS D ISO 20341-2020
當(dāng)前最新: KS D ISO 20341-2020

適用范圍: 本規(guī)范涵蓋使用多個(gè) Delta 層參考材料進(jìn)行二次離子質(zhì)譜 (SIMS) 深度測(cè)量。

專題

質(zhì)譜總離子流圖的計(jì)算方法怎么解一級(jí)質(zhì)譜

KS D ISO 20341:2005相似標(biāo)準(zhǔn)

KS D ISO 20341-2005(2020) 表面化學(xué)分析二次離子質(zhì)譜法用多δ層標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)估算深度分辨參數(shù)的方法 BS ISO 20341:2003(2010) 表面化學(xué)分析二次離子質(zhì)譜多δ層參考材料估計(jì)深度分辨率參數(shù)的方法 OS GSO ISO 23812:2013 表面化學(xué)分析二次離子質(zhì)譜多δ層參比材料的硅深度校準(zhǔn)方法 KS D ISO 20341-2020 表面化學(xué)分析二次離子質(zhì)譜多δ層標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)估計(jì)深度分辨率參數(shù)的方法 BH GSO ISO 23812:2016 表面化學(xué)分析二次離子質(zhì)譜多δ層參比材料的硅深度校準(zhǔn)方法

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