BS EN IEC 60749-13:2018
半導(dǎo)體裝置.機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法.鹽霧氣氛
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Salt atmosphere
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- BS EN IEC 60749-13:2018
- 發(fā)布
- 2018年
- 總頁(yè)數(shù)
- 20頁(yè)
- 發(fā)布單位
- 英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
- 當(dāng)前最新
- BS EN IEC 60749-13:2018
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- EN 60749-14 IEC 60749-14 MIL-STD-883J
- 被代替標(biāo)準(zhǔn)
- BS EN 60749-13:2002
- 適用范圍
- 描述一種鹽霧試驗(yàn)，該試驗(yàn)確定半導(dǎo)體器件的抗腐蝕性。
| 術(shù)語(yǔ) | 描述 |
|---|---|
| 腐蝕 Corrosion | 金屬由于化學(xué)或電化反應(yīng)作用使表面被破壞的現(xiàn)象 |
專題
BS EN IEC 60749-13:2018相似標(biāo)準(zhǔn)
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