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ISO 17294-2:2016
水質(zhì).電感耦合等離子體質(zhì)譜法(ICP-MS)的應(yīng)用.第2部分:鈾同位素等選擇元素的測(cè)定

Water quality - Application of inductively coupled plasma mass spectrometry (ICP-MS) - Part 2: Determination of selected elements including uranium isotopes


標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
ISO 17294-2:2016
發(fā)布
2016年
總頁(yè)數(shù)
38頁(yè)
發(fā)布單位
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織
替代標(biāo)準(zhǔn)
ISO 17294-2:2023
當(dāng)前最新
ISO 17294-2:2023
 
 
引用標(biāo)準(zhǔn)
ISO 15587-1:2002 ISO 15587-2:2002 ISO 17294-1:2004 ISO 3696:1987 ISO 5667-1:2006 ISO 5667-3:2012 ISO 7027-1:2016 ISO 8466-1:1990 ISO/TS 13530:2009
適用范圍
本部分 ISO 17294-2 規(guī)定了在水中(例如飲用水、地表水、地下水、廢水和副產(chǎn)品)測(cè)定所選元素(包括鈾同位素)的方法。考慮到具體干擾和其他干擾,這些方法也可用于消化的水和污泥樣品中(例如根據(jù) ISO 15587-1 或 ISO 15587-2 中描述的消化水)。工作范圍取決于基質(zhì)和遇到的干擾。在飲用水和相對(duì)未受污染的水中,定量限 (xLQ) 介于 0.002 μg/l 和 10 μg/l 之間,具體取決于元素和預(yù)定要求。大多數(shù)元素的定量限受到空白污染的影響,并主要取決于實(shí)驗(yàn)室潔凈室設(shè)施的可用性、試劑的純度和玻璃器具的清潔度。干擾(見(jiàn)第5章)或記憶效應(yīng)(見(jiàn) ISO 17294-1:2004,8.2)時(shí),下限定量限更高。
術(shù)語(yǔ)描述
定量限 (xLQ)
Limit of Quantification (LOQ)
在一定置信水平下可定量測(cè)定的待測(cè)物的最低濃度或量。
干擾
Interference
在分析過(guò)程中導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果偏差的現(xiàn)象,可能由光譜干擾、基體效應(yīng)或其他因素引起。
空白污染
Blank Contamination
在分析過(guò)程中由于試劑、器皿或環(huán)境引入的污染物對(duì)結(jié)果的影響。

ISO 17294-2:2016 中提到的儀器設(shè)備

微波消解儀

Milestone ETHOS X
用于樣品前處理,通過(guò)微波加熱實(shí)現(xiàn)樣本消化和分解。
電感耦合等離子體質(zhì)譜儀 (ICP-MS)

Agilent 7900 ICP-MS
用于檢測(cè)水中元素及其同位素的高靈敏度儀器。

其他標(biāo)準(zhǔn)


專題


ISO 17294-2:2016相似標(biāo)準(zhǔn)


誰(shuí)引用了ISO 17294-2:2016 更多引用





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