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IEC 63287-1:2021
半導(dǎo)體器件 通用半導(dǎo)體鑒定指南 第1部分:IC 可靠性鑒定指南

Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification


標準號
IEC 63287-1:2021
發(fā)布
2021年
總頁數(shù)
90頁
發(fā)布單位
國際電工委員會
當前最新
IEC 63287-1:2021
 
 
代替標準
IEC 60749-43:2017 IEC 47/2703/FDIS:2021
適用范圍
IEC 63287的這一部分給出了半導(dǎo)體集成電路產(chǎn)品可靠性鑒定計劃的指南。本文檔不適用于軍事和太空相關(guān)應(yīng)用。

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