JIS K 0199:2023
不同顯微測量儀器之間相同位置分析的對(duì)準(zhǔn)程序指南

Guideline for alignment procedure for identical location analysis between different microscopic measuring instruments

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

JIS K 0199:2023

發(fā)布

2023年

發(fā)布單位

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)

當(dāng)前最新

JIS K 0199:2023

 

 

介紹

該標(biāo)準(zhǔn)提供了在不同顯微測量儀器之間進(jìn)行相同位置分析時(shí)的對(duì)準(zhǔn)程序指導(dǎo)。內(nèi)容涵蓋對(duì)準(zhǔn)過程的基本原則、操作步驟及注意事項(xiàng)，旨在確保測量結(jié)果的一致性和可比性。標(biāo)準(zhǔn)中明確了對(duì)準(zhǔn)前的準(zhǔn)備工作、儀器校準(zhǔn)要求以及對(duì)準(zhǔn)過程中應(yīng)遵循的技術(shù)規(guī)范。同時(shí)，還涉及對(duì)準(zhǔn)后驗(yàn)證方法及相關(guān)數(shù)據(jù)記錄的要求。該標(biāo)準(zhǔn)適用于需要在多種顯微測量設(shè)備之間進(jìn)行精確位置匹配的場景，為相關(guān)操作人員提供了系統(tǒng)化的操作指南。

***此介紹可能不準(zhǔn)確，請注意參考原文。

專題

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