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質(zhì)譜 校正
本專題涉及質(zhì)譜 校正的標準有9條。
國際標準分類中，質(zhì)譜 校正涉及到真空技術(shù)、分析化學(xué)、光學(xué)和光學(xué)測量、光纖通信。
在中國標準分類中，質(zhì)譜 校正涉及到真空檢測儀表與裝置、化學(xué)、基礎(chǔ)標準與通用方法、光學(xué)測試儀器、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器。
日本工業(yè)標準調(diào)查會，關(guān)于質(zhì)譜 校正的標準
- JIS Z 8754:1999 真空技術(shù).質(zhì)譜型泄漏檢測儀的校正
- JIS K 0158:2021 表面化學(xué)分析. 二次離子質(zhì)譜法. 單離子計數(shù)動態(tài)二次離子質(zhì)譜法中飽和強度的校正方法
美國材料與試驗協(xié)會，關(guān)于質(zhì)譜 校正的標準
- ASTM C1590-04 感應(yīng)耦合等離子體質(zhì)譜法的交替錒系校正的標準規(guī)程
- ASTM C1590-21 電感耦合等離子體質(zhì)譜法的交替錒系校正的標準操作規(guī)程
- ASTM C1590-04(2009) 電感耦合等離子體質(zhì)譜法的交替錒系校正的標準實施規(guī)程
- ASTM C1590-04(2014) 電感耦合等離子體質(zhì)譜法的交替錒系校正的標準操作規(guī)程
英國標準學(xué)會，關(guān)于質(zhì)譜 校正的標準
- BS ISO 20411:2018 表面化學(xué)分析 二次離子質(zhì)譜分析 單離子計數(shù)動態(tài)二次離子質(zhì)譜飽和強度校正方法
- BS EN 62129:2006 光譜分析儀的校正
國際電工委員會，關(guān)于質(zhì)譜 校正的標準
- IEC PAS 62129:2004 光譜分析儀的校正
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可能用到的儀器設(shè)備
