x熒光測(cè)試
本專(zhuān)題涉及x熒光測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)有10條。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，x熒光測(cè)試涉及到金屬材料試驗(yàn)、半導(dǎo)體材料、無(wú)機(jī)化學(xué)。
在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，x熒光測(cè)試涉及到半金屬及半導(dǎo)體材料分析方法、半金屬與半導(dǎo)體材料綜合、氧化物、單質(zhì)、其他日用品。
國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于x熒光測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 24578-2015 硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜測(cè)試方法
- GB/T 24578-2009 硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜測(cè)試方法
SAE - SAE International，關(guān)于x熒光測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)
- SAE AS6171/3-2016 通過(guò) X 射線(xiàn)熒光測(cè)試方法檢測(cè)可疑/假冒 EEE 部件的技術(shù)
美國(guó)機(jī)動(dòng)車(chē)工程師協(xié)會(huì)，關(guān)于x熒光測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)
- SAE AS6171/3-2022 通過(guò) X 射線(xiàn)熒光測(cè)試方法檢測(cè)可疑/假冒 EEE 部件的技術(shù)
德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于x熒光測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN 51001 Bb.1:2003 氧化原材料和基礎(chǔ)材料測(cè)試.X射線(xiàn)熒光法(XRF)測(cè)試通用基礎(chǔ).XRF試樣測(cè)定用材料分組方法總則
- DIN 51001 Bb.1:2010 氧化原材料和基礎(chǔ)材料測(cè)試.X射線(xiàn)熒光法(XRF)測(cè)試通用基礎(chǔ).XRF試樣測(cè)定用材料分組方法總則
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-輕工，關(guān)于x熒光測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)
- QB/T 1912-1993 眼鏡架金屬鍍層厚度測(cè)試方法 X熒光光譜法
SCC，關(guān)于x熒光測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN 51001-1:1983 氧化材料的測(cè)試 X射線(xiàn)熒光法 一般工作基礎(chǔ)
- DIN 51001 Supplement 1:2003 氧化原料和基礎(chǔ)材料的測(cè)試 X射線(xiàn)熒光法（XRF）的一般工作基礎(chǔ) X射線(xiàn)熒光法試樣測(cè)定用材料組的分解方法的一般概述
- AS 2563:1982 波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀 精度測(cè)定試驗(yàn)方法
